一、JTAG/SWD调试原理

1.1 调试原理简析

STM32F4xx的内核是CortexTM-M4F,该内核包含用于高级调试功能的硬件。利用这些调试功能,可以在取指(指令断点)或取访问数据(数据断点)时停止内核。内核停止时,可以,查询内核的内部状态和系统的外部状态。查询完成后,将恢复内核和系统并恢复程序执行。当调试器与STM32F4xx MCU相连并进行调试时,将使用内核的硬件调试模块。
提供两个调试接口:

  • 串行接口
  • JTAG调试接口

在这里插入图片描述

引脚情况
在这里插入图片描述

引脚调用,如果是都没有,5个引脚都会被释放,如果是SW只有2个引脚被占用
在这里插入图片描述

端口复用映射
在这里插入图片描述

二、在实验中讲解调试方法

2.1 调试之前的配置

几个步骤,我就直接截图了
在这里插入图片描述
在这里插入图片描述
在这里插入图片描述
在这里插入图片描述
在这里插入图片描述

2.2 调试

在这里插入图片描述
在这里插入图片描述

点击Peripherals,即外设
在这里插入图片描述
就可以看到每一个寄存器的位,也可以去设置值
在这里插入图片描述

查看某个变量的值

在这里插入图片描述

在这里插入图片描述

在这里插入图片描述

多练,多实际操作

Logo

北京人形旗下天工造物具身智能开源社区,聚焦具身天工与慧思开物两大平台

更多推荐